高加速寿命HALT/HASS

提供各类产品、元器件的高加速寿命试验和高加速应力筛选试验，通过高应力，快速找出产品的设计缺陷，并加以分析改正，可以缩短研发周期，提高产品质量的设备。

高加速寿命试验（HALT, Highly Accelerated Life Testing）和高加速应力筛选试验（HASS, Highly Accelerated Stress Screen）是两种重要的可靠性测试方法，它们在产品开发、生产和质量控制过程中发挥着关键作用。高加速寿命试验（HALT/HASS），通过高应力，快速找出产品的设计缺陷，并加以分析改正，可以缩短研发周期，提高产品质量的设备。

通过该测试，可以：1、快速发现设计及程序的限制因素；2、评估和改良产品设计极限；3、找到极限时统计特色的信息；4、减少研发时间及成本；5、正式量产前即消除设计上的问题；6、作为工程工具作为评估改变对产品造成的影响。

通常高加速试验按照以下步骤或客户指定的步骤进行

本测试适用于电工电子产品及其电子部件、印制电路板组件等。对于大型整机，宜优先考虑在前端的装配级别(如印制电路板组件、子模块)上进行试验。还适用于电工电子产品的研发、设计和(或)试产阶段，也可用于批量生产阶段。

高加速寿命试验（HALT）、高加速应力筛选试验（HASS）

a) 温度步进试验，包括：低温步进应力试验和高温步进应力试验；

b) 快速温度变化试验；

c) 振动步进试验；

d) 综合环境应力试验；

e) 回归验证。

GB/T 34986—2017/IEC62506:2013 产品加速试验方法 GB/T 29309-2012 电工电子产品加速应力试验规程高加速寿命试验导则 4、检测项目 电工电子产品及其电子部件、印制电路板组件等产品各研制高加速试验（HALT/HASS）试验。